國立臺灣大學儀器設備共同使用中心(研究發展處企劃組)

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計畫主持人: 林致廷 所屬單位: 電機資訊學院 電子工程學研究所 儀器名稱 英文: Atomic force microscopy 中文: 原子力顯微鏡 儀器相關照片   放置地點 應用力學所015室 聯絡資料 姓名 電話 email 林致廷 33669603 timlin@ntu.edu.tw 網站連結   可否提供 校外服務 是 可提供校外借用 可接受校外委託代為檢測、分析等 使用方式 通過訓練課程: 通過此儀器訓練及檢定 代工使用 其他: 儀器基本規格 1.XY range: 125 x 125 um +/- 10%. Z range: 4.5 um +/- 10%. 2.High Density image : 5120X5120 3.PeakForec QNM: New imaging mode allows quantitative mapping of nano-mechanical properties 　　　　 including elastic modulus, adhesion, deformation, and dissipation while simultaneously imaging sample topography at high resolution. 4.PeakForce TUNA: Measures ultra-low currents between probe tip and sample as probe is scanned over the sample. 5.Scanning in Fluid: Cantilever Holder for Scanning in Fluid 6.接觸式原子力顯微(Contact Mode AFM): 7.非接觸式原子力顯微鏡(Non-Contact Mode AFM) 8.側向力原子力顯微鏡(LFM, Lateral Force Microscope) 9.輕敲式原子力顯微鏡(Tapping Mode AFM (Bimorph)): 10.磁力顯微鏡( MFM ) : 只需使用磁性探針即可. 11.表面電位能顯微鏡(SEPM) 儀器功能描述 1.奈米表面形貌量測 2.奈米結構分析 3.生物細胞表面性質量測 4.表面電位密度分布量測 5.表面力學材料性質量測 6.表面黏彈性係數量測 儀器schedule 檢視 服務項目及收費標準 服務項目 時段[院內] 以次[院內] 會費[院內] 時段[校內] 以次[校內] 會費[校內] 時段[校外] 以次[校外] 會費[校外] 申請代工 800 ──── ──── 800 ──── ──── 1000 ──── ──── 訓練課程 ──── 1200 ──── ──── 1200 ──── ──── 1500 ──── 液態量測模組 ──── 1000 ──── ──── 1000 ──── ──── 1000 ──── 儀器檢定 ──── 1200 ──── ──── 1200 ──── ──── 1500 ────

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